●測定元素：A型鎂（Mg）—鈾（U），B型钛（Ti）—鈾（U）。測量範圍：1ppm—99.99%。●優化光路設計，在空氣狀态下即可測量Mg、Al、Si、P、S等

DF1600）主要技術指标：1、探測器VITSSDD矽漂移探測器（電制冷，隻需要通電即可）典型分辨率：123ev輸入計數率：1000KCPS峰背比：>25

●分析元素範圍：Na-U；分析濃度範圍：1ppm~99.99%。●對樣品進行無損分析，分析方便快捷。●對樣品形态要求少，固體、液體、粉末樣品均可以直接檢測。●采

●測量食品中的镉、鉛、砷等重金屬元素。●無損檢測直接測定，無須對樣品進行化學、物理處理。●測定時間短，200s即可得到穩定的數值。●采用65Kv一體化X射線發生

●分析元素範圍F-U；分析濃度範圍：1ppm~99.9%。●采用上照式設計，避免污染，操作方便，無需維護。●垂直倒角設計，精密的控制保證優異的重複性。●對樣品進

●分析元素範圍Na-U；分析濃度範圍：1ppm~99.9%。●采用上照式設計，避免污染，操作方便，無需維護。●垂直倒角設計，精密的控制保證優異的重複性。●對樣品

●偏振光學系統，400w端窗X射線管作為激發源，FAST SDD作為檢測器●直接激發和偏振激發自由切換●八種偏振靶自由切換●上照式設計●對樣品形态無要求，液體、

儀器原理：X射線管發出的一次X射線，經過準直器照射到樣品表面，樣品激發并輻射出所含元素的特征X射線，根據特征X射線的能量及強度對樣品所含元素進行定性、定量分析。

●測定元素：鎂（Mg）—鈾（U），測量範圍：1ppm—99.9%。●優化光路設計，在空氣狀态下即可測量Mg、Al、Si、P、S等輕元素，免除抽真空的麻煩。無需昂

●分析元素範圍Na-U；分析濃度範圍：1ppm~99.9%。●采用上照式設計，避免污染，操作方便，無需維護。●垂直倒角設計，精密的控制保證優異的重複性。●對樣品