選用CCD可能會減少光電直讀光譜儀的成本及減少儀器體型，實現全譜分析，可以很便捷地增加檢驗元素的類型。

除此之外，CCD具備優良穩定性能和較長的使用期限。CCD型光電直讀光譜儀可以實現激起試樣時自動完成波長校正，不再需要定時進行校正。選用CCD可實現模塊化、便于校正、抗震動。

傳統式的光電倍增管(PMT)技術相比較，對CCD的研究發展比較晚，做為新式檢驗器件，還存在相應的局限。首先CCD無法如PMT那般每一個通道都做優化。其次，CCD在使用中為了減少暗電流需要降熱，低溫控制的實現相對比較不便；CCD現階段還無法使用一些髙速取樣技術，因此在痕量元素分析方面性能不及PMT；CCD的信噪比不如PMT，其次怎樣确保多塊CCD的一緻性，以及處理多塊CCD之間的接收空缺區，也是一個問題。除此之外，現階段CCD技術已經可以滿足中端分析使用水平，但在短波元素分析、低含量元素分析、短時間分析準确度和長期準确度方面和PMT還是有差異。

盡管現階段CCD還有一些缺點與不足，可是CCD在光電直讀光譜儀中的使用是值得期待的。值得一看CCD器件發展已經非常完善，可以滿足一般的分析需求，對于市場細分，各類特殊用途的CCD持續産生。可以預期CMOS(互補金屬氧化物半導體)技術很快會使用于CCD之中，這種技術的不斷發展會促進CCD發展到更高的水平。

CCD與PMT結合是現階段解決全譜檢驗并滿足微量和痕量分析的優先選擇，但同時滿足二種類型探測器的取樣控制和系統的完美結合現階段依然是此類儀器的制造難題。